PHITSを用いたDNA損傷計算; マクロからミクロへの挑戦

DNA damage calculation using PHITS; Challenge from macroscopic to microscopic simulations

佐藤 達彦   ; 松谷 悠佑  ; 甲斐 健師   ; 小川 達彦   ; 平田 悠歩   ; 関川 卓也

Sato, Tatsuhiko; Matsuya, Yusuke; Kai, Takeshi; Ogawa, Tatsuhiko; Hirata, Yuho; Sekikawa, Takuya

PHITSは、任意物質中における様々な放射線の振る舞いをコンピュータ内で再現するモンテカルロ放射線挙動解析計算コードであり、現在、そのユーザー数は8,000名を超え世界68カ国で利用されている。その主な利用目的は、放射線施設設計、医学物理、放射線防護、宇宙線研究などである。PHITSのような汎用放射線挙動解析コードは、荷電粒子による物質へのエネルギー付与量を計算する際、阻止能に基づく連続エネルギー損失近似を採用するのが一般的である。しかし、DNAのようなナノスケールの放射線影響を解明するためには、荷電粒子の飛跡周辺に発生する個々の電離や励起の位置(飛跡構造)を正確に再現する必要があり、連続エネルギー損失近似では不十分である。本発表では、近年、PHITSに導入した飛跡構造解析モード及びそれを応用したDNA損傷計算結果について紹介する。

DNA damage calculation using the track-structure mode of PHITS will be discussed at the meeting.