Itinerant U 5 band states in the layered compound UFeGa observed by soft X-ray angle-resolved photoemission spectroscopy

軟X線角度分解光電子分光によって観測された層状ウラン化合物UFeGaにおける遍歴的なU 電子状態

藤森 伸一   ; 寺井 恒太; 竹田 幸治   ; 岡根 哲夫  ; 斎藤 祐児  ; 村松 康司; 藤森 淳; 山上 浩志*; 常盤 欣文*; 池田 修悟; 松田 達磨; 芳賀 芳範   ; 山本 悦嗣  ; 大貫 惇睦

Fujimori, Shinichi; Terai, Kota; Takeda, Yukiharu; Okane, Tetsuo; Saito, Yuji; Muramatsu, Yasuji; Fujimori, Atsushi; Yamagami, Hiroshi*; Tokiwa, Yoshifumi*; Ikeda, Shugo; Matsuda, Tatsuma; Haga, Yoshinori; Yamamoto, Etsuji; Onuki, Yoshichika

常磁性体UFeGaに対して軟X線放射光(=500eV)を用いた角度分解光電子分光実験を行い、この化合物のバルクU 5電子状態に敏感な電子状態を調べた。実験結果をU 5電子を遍歴として取り扱ったLDAバンド計算と比較したところ、両者の一致は定性的なものであったが、フェルミ面の形状はよく再現された。この結果は、この化合物におけるU 5電子は基本的に遍歴モデルで理解されることを示している。

We have performed angle-resolved photoemission spectroscopy (ARPES) experiments on paramagnetic UFeGa using soft X-ray synchrotron radiation (=500 eV) and derived the bulk- and U 5-sensitive electronic structure of UFeGa. Although the agreement between the experimental band strucure and the LDA calculation treating U 5 electrons as beeing itinerant is qualitative, the morphology of the Fermi surface is well explained by the calculation. This result claims that the importance of the electron correlation effect even for the itinerant U 5 compound.