キレートディスク/誘導結合プラズマ発光分光分析による再処理施設低レベル放射性廃液中の微量元素分析法の開発

Determination of trace elements in low-level radioactive liquid waste of reprocessing plant using chelating disk separation/ICP-AES

岡野 正紀 ; 後藤 雄一 ; 實方 秀*; 根本 弘和*; 高野 雅人; 河本 規雄; 久野 剛彦 ; 山田 敬二

Okano, Masanori; Goto, Yuichi; Jitsukata, Shu*; Nemoto, Hirokazu*; Takano, Masato; Komoto, Norio; Kuno, Takehiko; Yamada, Keiji

使用済燃料の再処理により発生する低レベル放射性廃液(以下、「再処理LA廃液」という)は、セメント固化等の処理後に放射能レベルに応じて、浅地中(ピット)余裕深度等の埋設処分がなされる。このため、廃棄体の安定化処理及び処分後の環境への影響評価には、処理対象である再処理LA廃液中の元素組成の把握が重要である。一般的にmg/オーダー以下の微量金属元素の定量には、誘導結合プラズマ発光分光分析法(ICP-AES)が用いられる。しかし、高濃度ナトリウム(10g/)を含む再処理LA廃液の分析では、試料中のNaが測定時に干渉(分光,イオン化)を及ぼすため、試料の数百数万倍の希釈を必要とし、100mg/以下の微量元素の定量が困難であった。本研究では、イミノ二酢酸型のキレートディスクを用いて、再処理LA廃液から微量の金属元素を分離回収するとともに、測定妨害元素であるNaを除去し、ICP-AESで定量する方法を試みた。

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