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堺 公明; 山野 秀将; 田中 正暁; 小野 綾子; 大島 宏之; 金子 哲也*; 廣田 和生*; 佐郷 ひろみ*; Xu, Y.*; 岩本 幸治*; et al.
Proceedings of 15th International Topical Meeting on Nuclear Reactor Thermal Hydraulics (NURETH-15) (USB Flash Drive), 13 Pages, 2013/05
流動励起振動評価手法の開発は、手法の検証に旋回流と偏流条件を含む高レイノルズ数条件の個別効果実験データ利用できるというマイルストーンに達した。一方、技術基準はナトリウム冷却高速炉の設計者向けに文書化することが好ましい。このような背景から、JSFRホットレグ配管の流動励起振動設計ガイドラインが文書化された。本論文では主要な個別効果実験に基づいた流動励起振動設計手法ガイドラインとガイドラインの補足的な解釈も記述する。
Titarenko, Yu. E.*; Batyaev, V. F.*; Butko, M. A.*; Dikarev, D. V.*; Florya, S. N.*; Pavlov, K. V.*; Titarenko, A. Yu.*; Tikhonov, R. S.*; Zhivun, V. M.*; Ignatyuk, A. V.*; et al.
Physical Review C, 84(6), p.064612_1 - 064612_19, 2011/11
被引用回数：22 パーセンタイル：76.81(Physics, Nuclear)ITEPで測定された、
Cr, 
Fe, Ni, 
Nb, 
Ta, W, Pb, 
Biターゲットに40-2600MeVの高エネルギー陽子を入射した場合の核種生成断面積を用いて、幾つかのよく用いられる高エネルギー輸送コードの予測精度を評価した。ITEPの実験結果はCGIで行われた多数のインバースカイネマティクス法の実験データとおおむね一致している。測定データの解析は、MCNPX(Bertini, Isabelオプション), CEM3.02, INCL4.2+ABLA, INCL4.5+ABLA07, PHITS、及び、CASCADE.07を用いて行われた。すべてのターゲット・入射エネルギーに対して、計算値と実験値の間の逸脱係数を評価し、今回評価されたすべてのコードで改善が必要なことを示した。加えて、
Pbターゲットに500MeV陽子を入射した新たな実験の結果を公開する。
Titarenko, Yu. E.*; Batyaev, V. F.*; Butko, M. A.*; Dikarev, D. V.*; Florya, S. N.*; Pavlov, K. V.*; Titarenko, A. Yu.*; Tikhonov, R. S.*; Zhivun, V. M.*; Ignatyuk, A. V.*; et al.
LA-UR-11-02704, 31 Pages, 2011/06
ITEPで測定された、
Cr, Fe,Ni, Nb, Ta, W, Pb, Biターゲットに40-2600MeVの高エネルギー陽子を入射した場合の核種生成断面積を用いて、幾つかのよく用いられる高エネルギー輸送コードの予測精度を評価した。ITEPの実験結果はCGIで行われた多数のインバースカイネマティクス法の実験データとおおむね一致している。測定データの解析は、MCNPX(Bertiin, Isabelオプション), CEM3.02, INCL4.2+ABLA, INCL4.5+ABLA07, PHITS、及び、CASCADE.07を用いて行われた。すべてのターゲット・入射エネルギーに対して、計算値と実験値の間の逸脱係数を評価し、今回評価されたすべてのコードで改善が必要なことを示した。
Fe and Cr targets irradiated with 0.04- to 2.6-GeV protonsTitarenko, Yu. E.*; Batyaev, V. F.*; Titarenko, A. Yu.*; Butko, M. A.*; Pavlov, K. V.*; Florya, S. N.*; Tikhonov, R. S.*; Zhivun, V. M.*; Ignatyuk, A. V.*; Mashnik, S. G.*; et al.
Physics of Atomic Nuclei, 74(4), p.523 - 536, 2011/04
被引用回数：15 パーセンタイル：66.71(Physics, Nuclear)0.04から2.6GeVのエネルギーを持つ陽子をFe及びCrの厚いターゲットに入射した場合の核種生成断面積を、2台の
スペクトロメータを用いて測定した。これらのスペクトロメータは1332keVの線に対してそれぞれ1.8と1.7keVの解像度を有する。実験の結果649の生成核種が同定された。
Al(
,
)
Na反応をモニター反応として利用した。実験データをMCNPX(BERTINI, ISABELモデル), CEM03.02, INCL4.2, INCL4.5, PHITS、及び、CASCADE07コードの計算結果と比較した。
Nb and Ni targets irradiated with 0.04- to 2.6-GeV protonsTitarenko, Yu. E.*; Batyaev, V. F.*; Titarenko, A. Yu.*; Butko, M. A.*; Pavlov, K. V.*; Florya, S. N.*; Tikhonov, R. S.*; Zhivun, V. M.*; Ignatyuk, A. V.*; Mashnik, S. G.*; et al.
Physics of Atomic Nuclei, 74(4), p.537 - 550, 2011/04
被引用回数：22 パーセンタイル：76.81(Physics, Nuclear)0.04から2.6GeVのエネルギーを持つ陽子をNb及びNiの厚いターゲットに入射した場合の核種生成断面積を、2台のスペクトロメータを用いて測定した。これらのスペクトロメータは1332keVの線に対してそれぞれ1.8と1.7keVの解像度を有する。実験の結果1112の生成核種が同定された。Al(,)Na反応をモニター反応として利用した。実験データをMCNPX(BERTINI, ISABELモデル), CEM03.02, INCL4.2, INCL4.5, PHITS、及び、CASCADE07コードの計算結果と比較した。
W and Ta targets irradiated with 0.04- to 2.6-GeV protonsTitarenko, Yu. E.*; Batyaev, V. F.*; Titarenko, A. Yu.*; Butko, M. A.*; Pavlov, K. V.*; Florya, S. N.*; Tikhonov, R. S.*; Zhivun, V. M.*; Ignatyuk, A. V.*; Mashnik, S. G.*; et al.
Physics of Atomic Nuclei, 74(4), p.551 - 572, 2011/04
被引用回数：33 パーセンタイル：85.32(Physics, Nuclear)0.04から2.6GeVのエネルギーを持つ陽子をW及びTaの厚いターゲットに入射した場合の核種生成断面積を、2台のスペクトロメータを用いて測定した。これらのスペクトロメータは1332keVの線に対してそれぞれ1.8と1.7keVの解像度を有する。実験の結果1895の生成核種が同定された。Al(,)Na反応をモニター反応として利用した。実験データをMCNPX(BERTINI, ISABELモデル), CEM03.02, INCL4.2, INCL4.5, PHITS、及び、CASCADE07コードの計算結果と比較した。
Gd in thin W and Ta targets irradiated with 0.4- to 2.6-GeV protonsTitarenko, Yu. E.*; Batyaev, V. F.*; Titarenko, A. Yu.*; Butko, M. A.*; Pavlov, K. V.*; Florya, S. N.*; Tikhonov, R. S.*; Zhivun, V. M.*; Ignatyuk, A. V.*; Mashnik, S. G.*; et al.
Physics of Atomic Nuclei, 74(4), p.573 - 579, 2011/04
被引用回数：8 パーセンタイル：49.49(Physics, Nuclear)ITEP複合加速器施設において、0.4, 0.6, 0.8, 1.2, 1.6、及び、2.6GeVのエネルギーを持つ陽子をW及びTaの厚いターゲットに入射した場合のGd生成断面積を、
スペクトロメータを用いて測定した。得られた実験データを他施設の実験結果及び、MCNPX(BERTINI, ISABELモデル), CEM03.02, INCL4.2, INCL4.5, PHITS、及び、CASCADE07コードの計算結果と比較した。2
Faenov, A. Y.; Inogamov, N. A.*; Zhakhovskii, V. V.*; Khokhlov, V. A.*; 西原 功修*; 加藤 義章*; 田中 桃子; Pikuz, T. A.*; 岸本 牧; 石野 雅彦; et al.
Applied Physics Letters, 94(23), p.231107_1 - 231107_3, 2009/06
被引用回数：44 パーセンタイル：81.91(Physics, Applied)Ablation of LiF crystal by soft X-ray laser pulses with wavelength 13.9 nm and duration 7 ps is studied experimentally and theoretically. It is found that a crater appears on a surface of LiF for XRL fluence, exceeding the ablation threshold 10.2 mJ/cm
in one shot, or 5 mJ/cm in each of the three XRL shots. This is substantially below the ablation thresholds obtained with other lasers having longer pulse duration and/or longer wavelength. A new mechanism of thermomechanical ablation in large bandgap dielectrics is proposed. The theory explains the low ablation threshold via small attenuation depth, absence of light reflection, and electron heat conductivity.
Thiolliere, N.*; David, J.-C.*; Eid, M.*; Konobeyev, A. Y.*; Eikenberg, J.*; Fischer, U.*; Gr
schel, F.*; Guertin, A.*; Latg
, C.*; Lemaire, S.*; et al.
Proceedings of International Conference on the Physics of Reactors, Nuclear Power; A Sustainable Resource (PHYSOR 2008) (CD-ROM), 8 Pages, 2008/09
MEGAPIE計画では、鉛ビスマスターゲットから放出された放射性ガスの測定が行われた。測定値と複数の計算コードによる結果の比較を行い、鉛ビスマスターゲットからの放射性ガスの放出率を評価した。また、MCNPX2.5.0, FLUKA, SNTコードと放射化評価コードを結合し、ターゲットと構造材の放射化を評価した。これにより、運転中、照射後試験、そして、ターゲット廃棄時の安全や被爆評価にかかわるデータベースを構築した。
奥野 智晴*; 藤岡 慎介*; 西村 博明*; Tao, Y.*; 長井 圭治*; Gu, Q.*; 上田 修義*; 安藤 強史*; 西原 功修*; 乗松 孝好*; et al.
Applied Physics Letters, 88(16), p.161501_1 - 161501_3, 2006/04
被引用回数：64 パーセンタイル：87.48(Physics, Applied)レーザー生成プラズマからのEUV光の発生効率に対する初期密度の影響について実験的及び理論的に解析した。Sn密度が固体の7%の低密度フォームターゲットを波長1
mのYAGレーザーで照射する条件で、波長13.5nm, 2%帯域への変換効率が、固体ターゲットの場合の1.7倍(2.2%)まで向上することがわかった。効率の改善の理由は、ターゲットのマイクロストラクチャの効果及び、低密度化による膨張ダイナミックスの変化やオパシティの減少の効果,それによる発光スペクトルの狭窄化によると考えられる。
藤岡 慎介*; 西村 博明*; 西原 功修*; 佐々木 明; 砂原 淳*; 奥野 智晴*; 上田 修義*; 安藤 強史*; Tao, Y.*; 島田 義則*; et al.
Physical Review Letters, 95(23), p.235004_1 - 235004_4, 2005/12
被引用回数：147 パーセンタイル：95.55(Physics, Multidisciplinary)レーザー生成スズプラズマからの極端紫外(EUV)発光へのオパシティの効果を実験的に解析した。X線放射によって電子温度30-40eVの均一なスズプラズマを生成することにより、EUV波長域(10-20nm)におけるオパシティを初めて測定した。測定されたオパシティは理論計算とほぼ一致した。理論計算で求めたオパシティを用いた輻射流体シミュレーションと実験の比較の結果は、EUV光源としての効率を高めるためには、13.5nm領域でプラズマの光学的厚みが1程度以上になることが必要だが、反面オパシティが大きすぎると吸収の効果によって効率が低下することを示し、オパシティの制御が重要なことを示す。
島田 義則*; 西村 博明*; 中井 光男*; 橋本 和久*; 山浦 道照*; Tao, Y.*; 重森 啓介*; 奥野 智晴*; 西原 功修*; 河村 徹*; et al.
Applied Physics Letters, 86(5), p.051501_1 - 051501_3, 2005/01
被引用回数：113 パーセンタイル：94.29(Physics, Applied)EUV光源として用いられるSnプラズマの基本的な輻射流体力学的な特性を明らかにするために、阪大レーザー研の激光XII号レーザーで球状のSnターゲットを照射し、生成したプラズマからのEUV光のスペクトル,発光強度分布,波長13.5nm領域の2%帯域中の発光強度とその時間変化,変換効率の測定を行った。照射強度5
10
W/cmにおいて最大効率3%が得られた。変換効率のレーザー強度依存性を等温膨張プラズマを仮定した理論モデルと比較した。
西川 宏之*; 惣野 崇*; 服部 雅晴*; 西原 義孝*; 大木 義路*; 渡辺 英紀*; 及川 将一*; 神谷 富裕; 荒川 和夫
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 191(1-4), p.342 - 345, 2002/05
被引用回数：3 パーセンタイル：24.38(Instruments & Instrumentation)シリカガラスを用い、MeVエネルギーのイオンマイクロビームの照射効果を顕微フォトルミネッセンス(PL)・ラマン分光器と原子間顕微鏡(AFM)を用いて調べた。フォトルミネッセンス測定では、非架橋酸素ラジカル(≡Si-O)による欠陥を示す650nm帯が、イオンの飛跡に沿って分布している。また、マイクロビームの走査照射により生じた表面形状変化をAFMを用いて調べた結果、表面形状変化はビーム走査幅とイオン到達深度に良く対応して生じていることを明らかにした。さらに、照射と未照射の境界領域に強いPL強度分布を示す部分が生成することを見出した。この境界領域では、シリカガラス内部の高密度化とそれに付随して生じた表面形状変化による応力が原因で生成した欠陥と考えられる。
三島 嘉一郎*; 日引 俊*; 斉藤 泰司*; 西原 英晃*; 飛田 吉春*; 小西 賢介*; 松林 政仁
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, 424(1), p.229 - 234, 1999/00
被引用回数：31 パーセンタイル：88.39(Instruments & Instrumentation)高速増殖炉の炉心溶融事故時において、格納容器プール中で燃料-鋼材混合物が沸騰を起こす可能性がある。このため、シビアアクシデント時の安全評価に関連して、溶融炉心の再臨界性の可能性を評価しておくことは不可欠である。大きい液体-気体密度比を有する気液二相流は燃料-鋼材混合物の沸騰に起因して形成される。高密度比は二相流の基本特性に影響を与えると予想されるが、大きい液体-気体密度比を有する二相流に関する研究はこれまでほとんど行われていない。本研究では、気体-液体金属二相流の可視化とボイド率計測を中性子ラジオグラフィ及び画像処理技術を用いて行った。その結果、二相流の基本流動特性に及ぼす気相及び液相間の高密度化の効果が明らかとなった。
Faenov, A. Y.; Inogamov, N. A.*; Zhakhovskii, V.*; Khokhlov, V. A.*; 西原 功修*; 加藤 義章*; 田中 桃子; Pikuz, T.*; 岸本 牧; 石野 雅彦; et al.
no journal, ,
Experimental and theoretical investigations of large bandgap LiF dielectrics ablation threshold induced by 7 ps 13.9 nm XRL pulses were performed. LiF crystal threshold is about 1600, 210 and 8 times smaller compare with LiF crystal thresholds measured previously for ns and fs visible lasers and ns 46.9 nm soft XRL, correspondently.
