検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年

陽電子消滅寿命測定試験所間比較試験

Interlaboratry comparison of psotitron annihilation lifetime measurement

伊藤 賢志*; 岡 壽崇*; 小林 慶規*; 白井 泰治*; 和田 健一郎*; 松本 昌高*; 藤浪 真紀*; 平出 哲也; 誉田 義英*; 細見 博之*; 永井 康介*; 井上 耕治*; 斎藤 晴雄*; 榊 浩司*; 佐藤 公法*; 島津 彰*; 上殿 明良*

Ito, Kenji*; Oka, Toshitaka*; Kobayashi, Yoshinori*; Shirai, Yasuharu*; Wada, Kenichiro*; Matsumoto, Masataka*; Fujinami, Masanori*; Hirade, Tetsuya; Honda, Yoshihide*; Hosomi, Hiroyuki*; Nagai, Yasuyoshi*; Inoue, Koji*; Saito, Haruo*; Sakaki, Koji*; Sato, Kiminori*; Shimazu, Akira*; Uedono, Akira*

現在までに陽電子消滅寿命測定の標準化が行われたことはない。標準がないと各々の研究室データの比較における信頼性の欠如に繋がる。そこで標準化への第一歩として、金属,ポリカーボネート,シリカガラスの3種類の試料において合意した測定、及び解析手法で測定を行い、研究室間において比較を行った。研究室間における測定結果の違いが起こる原因について考察した結果、研究室ごとに使用している検出器の形状,配置などが異なり、コンプトン散乱された低エネルギーの$$gamma$$線がもう一方の検出器に入ることで寿命スペクトル上にゆがみができるためと考えられた。検出器間に薄い金属板を挿入することで、各研究室間の違いが低減されることを確認した。

So far no standard procedure for the positron annihilation lifetime (PAL) technique has been established. A lack of the standards has led to difficulty in ensuring equivalency and reliability of data from different laboratories. Recently, as a first step toward the standardization of the PAL technique, we conducted an interlaboratory comparison of PAL measurements for fused silica, polycarbonate and metal with agreed procedures for data recording and analysis. Based on the results of the reported lifetimes, possible sources of the uncertainties in the PAL measurements is probably caused by the backscattered $$gamma$$-rays by other detectors. We succeeded to show that inserting shields between detectors can reduce the uncertainty.

Access

:

- Accesses

InCites™

:

Altmetrics

:

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.